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應(yīng)用方法：
對密封電子元器件進行穿
刺，將其內(nèi)部氣體引入質(zhì)譜
儀分析水汽和其他氣體的含
量。
密封電子元器件內(nèi)部水汽含
量超標(biāo)的危害：
內(nèi)部環(huán)境污染
內(nèi)部電路腐蝕
內(nèi)部電路短路或燒毀
電學(xué)性能漂移
低溫性能變差

應(yīng)用方法：對密封電子元器件進行穿刺，將其內(nèi)部氣體引入質(zhì)譜儀分析水汽和其他氣體的含量。

密封電子元器件內(nèi)部水汽含量超標(biāo)的危害：內(nèi)部環(huán)境污染內(nèi)部電路腐蝕內(nèi)部電路短路或燒毀電學(xué)性能漂移低溫性能變差

特別設(shè)計的EDA 407 設(shè)備滿足日益增加的氣密電子元器件產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)測和控制要求